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電子器件集成ic為何采用砂塵老化試驗(yàn)箱
發(fā)布日期：2020-02-21 09:43 作者：砂塵老化試驗(yàn)箱
眾所周知，電子器件集成ic是電子設(shè)備的關(guān)鍵，而且電子設(shè)備全部的操縱和與運(yùn)算都集中化在集成ic中，那麼小的物品為何人們也要選用砂塵老化試驗(yàn)箱來(lái)做防污檢測(cè)呢，一般狀況下集成ic是包括在商品機(jī)殼當(dāng)中，非常少會(huì)遭受風(fēng)沙的危害，但都不清除一些例外的情況，例如因機(jī)殼損傷造成的風(fēng)沙入侵等，會(huì)危害到電子器件集成ic的正常運(yùn)作，也有，如同電腦主機(jī)箱，機(jī)殼常有熱管散熱孔，因此，人們每一次開(kāi)啟機(jī)殼，都是發(fā)覺(jué)主板接口上邊都是塵土，那樣也會(huì)危害到一切正常運(yùn)作。
因此根據(jù)砂塵老化試驗(yàn)箱就可以仿真模擬各種各樣風(fēng)沙入侵的情景，根據(jù)對(duì)電子器件集成ic開(kāi)展風(fēng)沙實(shí)驗(yàn)，能夠非常好的尋找電子器件集成ic的設(shè)計(jì)方案安全防護(hù)缺點(diǎn)。
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